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在精密視覺檢測領(lǐng)域,照明系統(tǒng)的性能直接影響缺陷檢出率與測量精度。日本電通產(chǎn)業(yè)(Densoku,DSK)推出的HF-SL-A1214LC-LEX-SWD透射光源,憑借其光學(xué)均勻性、緊湊化設(shè)計及穩(wěn)定的調(diào)光控制,成為LCD面板、PCB基板及光學(xué)元件檢測的理想選擇。本文將從技術(shù)特性、行業(yè)應(yīng)用及選型要點三個維度進(jìn)行深度剖析。
光學(xué)設(shè)計:采用環(huán)形熒光燈陣列(CCFL)結(jié)合多層擴(kuò)散結(jié)構(gòu)(霧化膜+微棱鏡導(dǎo)光板),實現(xiàn)9分割照度比≥90%,中心與邊緣亮度差異控制在±5%以內(nèi),有效避免檢測區(qū)域的光斑干擾。
亮度輸出:最高亮度達(dá)10,000cd/m2(典型值33,000勒克斯),支持低照度環(huán)境下的高信噪比成像,尤其適合OLED面板的微米級Mura缺陷識別。
機(jī)械設(shè)計:35mm超薄機(jī)身(A4/A3尺寸可選)與4~6kg輕量化設(shè)計,適配集成至自動化檢測設(shè)備或機(jī)械臂末端。殼體采用鋁合金材質(zhì),兼顧散熱與抗電磁干擾(EMI屏蔽達(dá)20dB)。
擴(kuò)展能力:支持多單元橫向拼接(需專用連接件),最大可擴(kuò)展至600mm×400mm發(fā)光面,滿足大尺寸面板檢測需求。
精準(zhǔn)控制:通過配套SWD-MT系列電源實現(xiàn)0~100%無級調(diào)光(線性誤差<2%),并支持外部TTL觸發(fā)信號(響應(yīng)時間<1ms),匹配高速生產(chǎn)線頻閃拍攝(34kHz高頻驅(qū)動無頻閃)。
穩(wěn)定性保障:內(nèi)置溫度補償電路,在5℃~35℃環(huán)境下亮度波動<1%,確保長期連續(xù)工作的可靠性。
應(yīng)用領(lǐng)域 | 檢測需求 | 光源配置方案 | 效果提升 |
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面板制造 | LCD亮暗點、色偏、劃痕 | 60°低角度透射+偏振濾光片 | 抑制玻璃表面反光,增強(qiáng)內(nèi)部缺陷對比度 |
PCB檢測 | 微米級線路斷線、焊膏厚度 | 同軸照明模式(分光鏡集成) | 減少銅箔紋理干擾,凸顯三維形貌特征 |
光學(xué)元件 | 鍍膜均勻性、氣泡/雜質(zhì) | 暗場輔助+漫射板透射 | 提升邊緣瑕疵與透明介質(zhì)的成像清晰度 |
注:實際配置需結(jié)合相機(jī)分辨率(建議≥5MP)與鏡頭視場角(如10倍遠(yuǎn)心鏡頭)優(yōu)化。
兼容性驗證
相機(jī)同步:需實測與Basler ace 2等工業(yè)相機(jī)的觸發(fā)延遲(建議≤10μs),避免高速拍攝時的畫面撕裂。
光學(xué)匹配:若檢測彩色缺陷,需驗證光源顯色指數(shù)(CRI>90)與相機(jī)色彩濾波片的波長匹配性。
環(huán)境適應(yīng)性
在粉塵環(huán)境(如PCB車間)建議加裝防塵罩,避免擴(kuò)散板污染導(dǎo)致均勻性下降。
長期使用需定期校準(zhǔn)(推薦每6個月用CS-200分光光度計檢測亮度衰減)。
合規(guī)性要求
日本市場需確認(rèn)PSE菱形認(rèn)證(證書號示例:PSE-216995),歐盟需符合EN 61347-1電氣安全標(biāo)準(zhǔn)。
壽命管理:CCFL版本額定壽命8,000小時,建議在亮度衰減至70%時更換燈管(DSK提供原廠校準(zhǔn)服務(wù))。
升級選項:若追求更長壽命,可評估同系列LED型號(如HF-SL-LED100,50,000小時壽命),但需注意色溫一致性差異。
結(jié)語
DSK HF-SL-A1214LC-LEX-SWD憑借其“高均勻性+超薄+智能調(diào)光"三位一體的設(shè)計,在精密檢測領(lǐng)域展現(xiàn)了高的性價比。用戶需結(jié)合具體工件特性(如透光率、表面材質(zhì))與檢測系統(tǒng)(相機(jī)、算法)進(jìn)行光路優(yōu)化,方能大化其性能優(yōu)勢